GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 14:33:07 浏览:9917
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基本信息
标准名称: | 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 |
英文名称: | Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of resolution |
中标分类: | 冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属工艺性能试验方法 |
ICS分类: | 冶金 >> 金属材料试验 >> 金属材料试验综合 |
替代情况: | 被GB/T 17473.6-2008代替 |
发布部门: | 国家质量技术监督局 |
发布日期: | 1998-08-19 |
实施日期: | 1999-03-01 |
首发日期: | 1998-08-19 |
作废日期: | 2008-09-01 |
主管部门: | 中国有色金属工业协会 |
归口单位: | 全国有色金属标准化技术委员会 |
起草单位: | 昆明贵金属研究所 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2004-04-15 |
页数: | 平装16开, 页数:6, 字数:6千字 |
书号: | 155066.1-15494 |
适用范围
本标准规定了贵金属浆料分辨率的测试方法。本标准适用于贵金属浆料的分辨率测定。非贵金属浆料亦可参照使用。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 冶金 金属理化性能试验方法 金属工艺性能试验方法 冶金 金属材料试验 金属材料试验综合
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