MIL-C-71139
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MIL-C-71139, MILITARY SPECIFICATION: CARTRIDGE, 25MM; HIGH EXPLOSIVE INCENDIARY WITH TRACE (HEI-T), M792 (4 JAN 1994) [S/S BY MIL-PRF-71139A]., This specification covers the requirements, examinations and tests for one type of percussion primed cartridge for use in 25 MM guns (see 6.1).
【英文标准名称】:
【原文标准名称】:家用和类似用途电器的安全.第2部分:旋涡式浴池和类似设备的特殊要求(IEC335-2-60-90,修订)
【标准号】:NFC73-860/A51-1993
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:1993-12
【实施或试行日期】:1993-11-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q81
【国际标准分类号】:97_170;91_140_70
【页数】:3P;A4
【正文语种】:其他
基本信息
| 标准名称： | 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 |
| 英文名称： | Test method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques |
| 中标分类： |
冶金 >>
金属理化性能试验方法 >>
金属无损检验方法 |
| ICS分类： |
冶金 >>
金属材料试验 >>
金属材料化学分析
|
| 替代情况： | GB 1554-1979;GB 4057-1983;被GB/T 1554-2009代替 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1995-04-18 |
| 实施日期： | 1995-12-01 |
| 首发日期： | 1979-05-26 |
| 作废日期： | 2010-06-01 |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 归口单位： | 全国半导体材料和设备标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 峨嵋半导体材料厂 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1995-12-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：12， 字数：20千字 |
适用范围
本标准规定了用择优腐蚀技术检验硅晶体完整性的方法。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 冶金 金属理化性能试验方法 金属无损检验方法 冶金 金属材料试验 金属材料化学分析
